一、2d光學(xué)影像測(cè)量?jī)x位移傳感器原理與特點(diǎn)：
1、通過(guò)光的干涉原理測(cè)量被測(cè)量的物體到鏡頭的距離；
2、適用于測(cè)量表面比較復(fù)雜的物體以及容易變形的物體；
3、測(cè)量角度范圍廣，可達(dá)到 8 5 °；
4、測(cè)量速度快，每秒達(dá)到測(cè)量 3000 次；
5、能方便測(cè)量， R 角、曲面輪廓等。
影像坐標(biāo)測(cè)量?jī)x通常是指一種具備30cm×20cm測(cè)量范圍的影像測(cè)量設(shè)備。它利用高分辨率的相機(jī)和精密的運(yùn)動(dòng)控制系統(tǒng)，能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)小尺寸物體的精確測(cè)量。

在2d光學(xué)影像測(cè)量?jī)x的校正中提醒用戶(hù)注意以下事項(xiàng)：

1、使用1μm級(jí)精度的玻璃光學(xué)尺：

 影像測(cè)量?jī)x校正精度時(shí)一般用50mm、100mm的1mm間距離刻劃的光學(xué)線紋玻璃尺，其誤差小于儀器的標(biāo)稱(chēng)測(cè)量誤差，需要使用1μm級(jí)精度光學(xué)尺。讓其對(duì)總長(zhǎng)校正后，讓儀器一格一格進(jìn)行測(cè)量，夾線嚴(yán)格對(duì)準(zhǔn)后所得測(cè)量值與標(biāo)值的偏差不能大于線性精度的計(jì)算結(jié)果；測(cè)程后，讓其回測(cè)原點(diǎn)，重合精度不能大于儀器標(biāo)稱(chēng)值。測(cè)量過(guò)程盡量減小對(duì)線不準(zhǔn)的人為誤差的影響，得到儀器綜合性能的關(guān)鍵指標(biāo)。

2、不要使用工件作為檢驗(yàn)的依據(jù)：

（1）由于現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境溫度的影響，不要使用熱膨脹系數(shù)較大的金屬材料工件作為實(shí)測(cè)樣件。

（2）使用邊線清晰的光學(xué)尺，以避免由于造影和選點(diǎn)對(duì)位不準(zhǔn)引起的讀數(shù)誤差，盡量接近真值。特別是不能使用軸類(lèi)器件，影像測(cè)量存在邊渡面投影造影不準(zhǔn)會(huì)引起較大誤差的技術(shù)局限，即需要避開(kāi)原理局限，盡量得到2D影像測(cè)量?jī)x正常使用中的精度值。